日本NF FRA51602頻率特性分析儀

測量頻率范圍 10 μHz ～ 2 MHz

從10μHz 的低頻到2 MHz 實(shí)現(xiàn)全覆蓋。分辨率也提高到 10μHz。支持電化學(xué)阻抗測量所需的超低頻。

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測量速度　0.5 ms/point

掃描速度最快0.5 ms/point。可幫助縮短生產(chǎn)線上的節(jié)拍 時(shí)間。

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基本精度增益±0.01 dB, 相位±0.06°

通過數(shù)字傅立葉計(jì)算方法與自校準(zhǔn)功能，隨時(shí)進(jìn)行高精度 測量。

* 準(zhǔn)確度根據(jù)測量條件而不同。

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動(dòng)態(tài)量程140 dB

通過高分辨率A/D 轉(zhuǎn)換器和對每個(gè)測量頻率點(diǎn)分別進(jìn)行量 程優(yōu)化的自動(dòng)切換量程功能，確保較大的動(dòng)態(tài)量程。對于測量過程中發(fā)生的變化，也能準(zhǔn)確地測量出來。

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隔離電壓　600 V CAT II／ 300 V CAT III

振蕩器輸出（OSC）與2 個(gè)分析輸入（CH1/ CH2）在機(jī)殼 與端子間相互被隔離，額定絕緣為600V CAT II 或 300V CAT III。高壓電需求增大的逆變器和PFC 回路等以電源回 路的環(huán)路/ 增益測量為首，其應(yīng)用范圍越來越大。

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自動(dòng)切換量程

追隨輸入信號的電平，設(shè)定量程后再進(jìn)行測量。如檢測 到超出量程的噪聲，則自動(dòng)設(shè)定大的量程進(jìn)行重新測量。測量數(shù)據(jù)成為未出現(xiàn)量程飽和的數(shù)據(jù)。為消除隨著量程變化而 出現(xiàn)的測量值不連續(xù)，也可選擇固定量程。

? 自動(dòng)高密度掃描

僅針對測量數(shù)據(jù)急劇變化的區(qū)間，自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測量。

? 振幅壓縮功能

為防止被測量系統(tǒng)的飽和或破損，對振蕩器的電平進(jìn)行控制，以使被測量系統(tǒng)的振幅水平保持穩(wěn)定。

? 延時(shí)功能

為減輕由于頻率改變時(shí)的瞬態(tài)響應(yīng)而引起的誤差，將時(shí)間延時(shí)至測量開始的功能。

? 積分功能

消除噪聲影響進(jìn)行測量的數(shù)據(jù)積分功能。重復(fù)測量期間按循環(huán)數(shù)或時(shí)間進(jìn)行設(shè)定。

? 自動(dòng)積分功能

進(jìn)行反復(fù)積分、直至噪聲引起的測量波動(dòng)成分達(dá)到設(shè)定值以下的功能。

? 補(bǔ)償

對于連接到外部的傳感器和電纜等測量系統(tǒng)的頻率特性進(jìn)行預(yù)先測量，校正測量系統(tǒng)的誤差成分。

提升測量作業(yè)的效率

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順序測量

對于設(shè)定存儲的內(nèi)容，按照編號順序讀出并掃描測量的功能。對于一個(gè)掃描，可將頻率范圍最多分割成20 個(gè)部分，在各自的頻率范圍內(nèi)分別按不同的振幅、積分設(shè)定等進(jìn)行測量。

feature01

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群延時(shí)測量

可顯示用于濾波器等電子電路波形再現(xiàn)性評價(jià)的群延時(shí)（GD : Group Delay，用 角頻率對輸入輸出間的相位進(jìn)行微分）。

feature02

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標(biāo)記搜索功能　可自動(dòng)搜索

除讓標(biāo)記移動(dòng)并讀取數(shù)值外，還可自動(dòng)搜索符合設(shè)定條件的點(diǎn)。 舉例，環(huán)路增益測試當(dāng)中，掃頻結(jié)束時(shí)自動(dòng)搜索「0ｄB」的“相位盈余”自動(dòng)搜索「0°」便可檢測到“增益盈余”

feature03

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頻率變化時(shí)相位控制

在振蕩器輸出信號的相位為0°時(shí)改變頻率。由此，從頻率掃描開始到結(jié)束期間的直流成分變?yōu)榱悖陔姵氐淖杩箿y量中，充放電狀態(tài)不發(fā)生變化。另外，在高通濾波器（HPF）的頻率特性測量中，不會(huì)由于直流而產(chǎn)生瞬態(tài)響應(yīng)。

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微分/ 積分運(yùn)算功能

在測量數(shù)據(jù)的時(shí)間區(qū)域里進(jìn)行微分／二階微分／積分／二階積分的功能。對于來自加速度傳感器和激光多普勒振動(dòng)計(jì)的信號，在掃描的同時(shí)進(jìn)行運(yùn)算，變換成位移／速度／加速度并顯示。

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圖表顯示

? SPLIT 顯示

可選擇在1 個(gè)畫面上顯示1 個(gè)圖表的“SINGLE”和上下顯示2 個(gè)圖表的“SPLIT”。

? 數(shù)據(jù)跡線

可覆蓋參考數(shù)據(jù)跡線（REF）和測量數(shù)據(jù)跡線（MEAS）。

? 相位UNWRAP 顯示

按0°、180°、360°不折回地連續(xù)顯示相位。還可顯示超過±360°的相位。