選用平面平晶——隨機(jī)附贈(zèng)光帶檢測(cè)參照?qǐng)D
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌等高平面件的平面檢測(cè)。
功率：20W 電源：220V／50Hz 燈源照射
平面平晶規(guī)格φ60＊20mmφ80＊20mmφ100＊25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)
＊平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
＊平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件，例如，平面光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌等高平面件的平面檢測(cè)。
功率：20W 電源：220V／50Hz 燈源照射
平面平晶規(guī)格φ60＊20mmφ80＊20mmφ100＊25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)
＊平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
＊平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件，例如，平面光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
