描述：
　　E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）；其部件采用美國(guó)，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)；采用小光斑設(shè)計(jì)，對(duì)大型PCB板小測(cè)試點(diǎn)定位，避免材質(zhì)干擾；開放性可調(diào)樣品臺(tái)，應(yīng)對(duì)各種大型PCB板，無(wú)需拆分即可直接測(cè)試。
　　規(guī)格：
　　●外形尺寸：360　mm　x　600mm　x　385　mm（長(zhǎng)x寬x高）
　　●樣品倉(cāng)尺寸：360mm×400mm　x160（長(zhǎng)x寬x高，高度可定制）
　　●儀器重量：50kg
　　●供電電源：AC220V/50Hz
　　●功率：1000W
　　●工作溫度：15-30℃
　　●相對(duì)濕度：≤85%，不結(jié)露
　　特點(diǎn)：
　　輻射保護(hù)
　　●樣品蓋鑲嵌鉛板X射線
　　●輻射標(biāo)志警示
　　●儀器經(jīng)第三方檢測(cè)，X射線劑量率合GB18871-2002《電離輻射護(hù)與輻射源基本標(biāo)準(zhǔn)》
　　硬件技術(shù)
　　●X射線下照式，激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉(cāng)，對(duì)于大件樣品、異形不平整樣品，無(wú)需拆分打磨，可直接測(cè)試
　　●模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，元素分辨率
　　●小光斑0.2mm，可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)定位，避免材質(zhì)干擾，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確
　　●空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，降低儀器內(nèi)部溫度；設(shè)計(jì)
　　●電路系統(tǒng)合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
　　軟件技術(shù)（HeLeeX　ED　Workstation　V3.0）
　　●分析元素：Na~U之間元素
　　●分析時(shí)間：90秒
　　●界面簡(jiǎn)潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易操作
　　●數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)
　　●根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度
　　●配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。
　　應(yīng)用：
　　●RoHS檢測(cè)：Pb（鉛）、Cd（鎘）、Hg（汞）、Cr（鉻）
　　●鹵素檢測(cè)：Br（溴）、Cl（氯）
　　●鍍層測(cè)試：應(yīng)對(duì)各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等