XT　H　225　X射線和檢測系統，可供工業應用
　　工業部件內外全檢
　　外部件和總成特征的詳細測量對于質量控制、失效分析和材料研究而言通常是重要的。XT　H系統可提供強大的X射線源，的檢測體積和較高的X射線和成像分辨率。
　　XT　H　系統可采用225kV電源，可選用旋轉目標，適合于各種應用，包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。
　　優點
　　可靈活地整合在單個系統中：X射線可用于快速目視檢測，可用于深入分析
　　快速數據采集和高質量圖像
　　可利用交互式操縱桿導航功能進行快速操作
　　高分辨率數字成像和處理
　　嵌入式裝置可使操作人員地操作該系統，無需任何的措施或警示標志
　　可與行業標準后處理應用緊密集成
　　維護開管技術
　　五軸可編程操縱器
　　精選高分辨率數字探測器
　　雙顯示，用于組合測量和實時分析
　　直觀的操縱桿導航可指導生成實時X射線圖像
　　測量體積　25X60cm
　　裝置，可作為設計標準
　　結構緊湊設計，輕質設施安裝
　　合人體工學的樣品裝載
　　應用
　　評估和測量精密塑料件和小鑄件、復雜機構、內部件、部件與CAD比較等
　　故障檢測和失效分析
　　裝配問題的故障診斷排除
　　材料研究和生物結構的分析
　　模型的數字化歸檔
　　主要特征概述
　　X射線源
　　可使用25kV至225　kV電壓，XT　H　225系統可用于一般用途，例如塑料、PCB、輕合金、小組件和樣本或生物樣本，也可用于用途，例如重型鑄件、焊接件和高密度合金。
　　目標
　　微焦斑可產生高的分辨率，并建議將其作為標準目標。棒陽是中空樣品單層壁檢測的理想選擇，例如管焊接。
　　旋轉目標源
　　帶有旋轉目標的X射線源可將X射線通量5倍，使客戶能獲得更快的數據采集或在相同的時間跨度內獲得更高的數據。
　　五軸樣品操縱器
　　XT　H　225系統有三個線性軸和兩個旋轉軸，可從任意角度觀察樣品。10kg操縱器可夾住大多數樣品重量，以進行操縱。操縱器通常用變速操縱桿進行控制。操縱器也可通過安裝在機架上的工業PC機采用編程的方式進行控制。
　　X射線平板探測器
　　可廣泛選擇各種平板，使其更好地匹配物體尺寸和X射線能量，這提供了樣品尺寸、視場和放大倍數要求的選擇。
　　高放大倍數
　　當樣品向X射線源移動時，幾何放大倍數將連續增加，從大約1X（緊挨著增強器窗口）到160X（碰觸到X射線源）。
　　圖像處理
　　一般NDT應用通常需要一些標準功能，例如對比度加強，圖像集成和背景減除。對于更加重要的分析，需要使用一些功能，例如自動芯片粘接空洞和引線彎曲計算、圖形顯示和色彩增強。
　　性
　　連續泵浦全金屬X射線管消除了密封玻璃管故障成本高和更換時間長等問題。客戶維護成本低，通常更換燈絲，花費15分鐘的更換時間。
　　系統技術指標
　　5μm　焦斑反射目標X射線源，25～225　kV，0～2000μA（非連續）60或225W.
　　10kg容量五軸可編程操縱器。
　　掃描范圍250　x　330mm.
　　幾何放大倍數：160x.
　　系統放大倍數：400x.
　　特征識別分辨率：1μm.
　　外機柜尺寸：2030mm　L，925mm　D，2000mm　H.
　　全套系統控制和圖像處理軟件。