Fluke Ti400熱像儀|福祿克TI400|熱成像儀Ti400 技術特點：
Fluke Ti400紅外熱像儀的標準高溫量程升級到1200攝氏度，不用另行加配高溫選件，-20℃至1200℃一氣呵成！滿足更多測量需求。
| 詳細的技術指標 | |
| 溫度 | |
| 溫度測量范圍（-10°C 以下未校準） | -20 °C 至 +1200 °C |
| 溫度測量 | ± 2 °C 或 2 % （處于 25 °C 額定溫度時，取較大值） |
| 屏顯發射率校正 | 是（根據數字和表格） |
| 屏顯反射背景溫度補償 | 是 |
| 屏顯傳輸校正 | 是 |
| 成像性能 | |
| 圖像捕獲頻率 | 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取決于型號） |
| 探測器類型 | 320 x 240 像素焦平面陣列，非致冷型微測輻射熱計 |
| 熱敏度 (NETD) | 30 °C 目標溫度時，≤ 0.05 °C(50 mK) |
| 總像素 | 76,800 |
| 紅外光譜帶 | 7.5 μm 至 14 μm（長波） |
| 可視（可見光）照相機 | 工業性能，500 萬像素 |
