- 產(chǎn)品型號：
- ValidatorⅢ
·產(chǎn)品介紹 第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上先進(jìn)的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實(shí)現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性，重復(fù)性。 ·產(chǎn)品特點(diǎn) 1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
3、當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器，因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應(yīng)的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動追蹤補(bǔ)償。
·技術(shù)參數(shù)
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | ||
| 分析元素 | Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高型） | ||
| Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型） | |||
| 檢出下限 | Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm | ||
| 樣品形狀 | 460×380mm(高150mm) | ||
| 樣品 | 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體 | ||
| 樣品室氣氛 | 大氣 | ||
| X射線管 | 靶材 | Rh | |
| 管電壓 | 50KV | ||
| 管電流 | 1mA | ||
| X射線照射徑 | 1/3/5mm | ||
| 防護(hù) | ＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕） | ||
| 檢測器 | 硅SIPIN探測器 | ||
| 光學(xué)圖像觀察 | 倍率15倍 | ||
| 軟件 | 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補(bǔ)償逃逸峰/自動補(bǔ)償譜圖漂移） | ||
| 照射徑：1/3/5mm | |||
| 定量分析：基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點(diǎn)校正 | |||
| 計算機(jī) | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | |
| 內(nèi)存 | 256MB以上 | ||
| 硬盤 | 20GB以上 | ||
| OS | WindowXP | ||
| 監(jiān)視器 | 17寸LCD | ||
| 周圍溫度 | 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度） | ||
| 周圍濕度 | 5～31。C時溫度范圍：相對濕度80%以下 /31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下 | ||
| 電源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | ||
| 消耗電力 | 1.3KVA以下（含計算機(jī)、LCD、打印機(jī)） | ||
| 設(shè)備重量 | 約65kg(不含桌子、計算機(jī)） | ||
| 外形寸法 | 600（W）×545（D）×435（H）mm | ||
