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半導體器件性能表征系統 型號：進口 該半導體器件性能表征系統是一個可以提供精密電流源、電壓源和測試功能的測試系統，為半導體器件和測試結構的直流參數測試、實時繪圖與分析提供了一套完整的方案，具有高和亞fA 級的分辨率，可廣泛應用于各類新材料、薄膜材料、異質結構等光電子材料及器件的電學性質和物理特性的研究。 | ||
| 特點 | ||
| ■直觀的、點擊式Windows 操作環境； ■獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA； ■內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲； ■獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試； ■支持多種外圍設備； ■用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充。 | ||
| 技術參數 | ||
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■電壓測量范圍：1μV-200V，電壓測量小分辨率為1μV； | ||
| 應用 | ||
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北京羲和陽光科技發展有限公司
免企業未認證證營業執照未上傳
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