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納科科技有限公司

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經營模式：進出口貿易商

所在地：廣東省深圳市

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: 超聲波掃描顯微鏡，SAM,聲學掃描顯微鏡; 電議

: X射線檢測設備，X射線透射設備，X-ray; 電議

: X射線檢測設備，封裝產品內部結構檢測設備; 電議

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品牌/商標：SONOSCAN
企業類型：貿易商
新舊程度：全新
原產地：美國

超聲掃描顯微鏡是新一代的超聲測試設備,可在生產線中用手工掃描方法來檢測器件的缺陷等。該設備可利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導體、元器件的結構、缺陷、對材料做定性分析。先進的聲學顯微成像（ AMI ）的技術是諸多行業領域在各類樣品中檢查和尋找瑕疵的重要手段。在檢查材料本身或粘結層之間必須保持完整的樣品時，這項技術的優勢尤為突出。超高頻超聲檢查可以比其他任何方法都更有效地檢測出脫層，裂縫，空洞和孔隙。

超聲掃描顯微鏡原理：

是一種非破壞性的檢測組件的完整性，內部結構和材料的內部情況的儀器，作為無損檢測分析中的一種，它可以實現在不破壞物料電氣能和保持結構完整性的前提下對物料進行檢測。被廣泛的應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域。其可以檢測：1.材料內部的晶格結構，雜質顆粒;2.內部裂紋;3.分層缺陷;4.空洞、氣泡、空隙等等

超聲掃描顯微鏡的特點

超聲波探頭頻率：5M到40M 超聲波掃描模式：A-Scan(某點掃描)、B-Scan(塊掃描)、C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截面)、T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤掃描) 掃描范圍：12.9X12.4英寸分辨率：8192X8192 選擇的聲波寬度：0.25納秒到1微秒 Z軸分辨率：80納米