劉飛峰
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經(jīng)營模式：工廠
主營產(chǎn)品：LED光學(xué)檢測儀器;LCD檢測設(shè)備;膜厚測量儀;光檢測積分半球;光檢測積分球;平面顯示器檢測設(shè)備;LED在線檢測設(shè)備;高性能光纖光譜儀
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自由變換反射量測角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。
反射角度自動可變的測量方式，對薄膜測量有更高的分析。
搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。
測量晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)（n:屈折率，k:衰減係數(shù)）。
