- 產品品牌：
- 蔡康
- 產品型號：
- XPR-300C
- 類型：
- 偏光顯微鏡
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一、儀器的主要用途和特點 XPR-300型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質、礦產、冶金、石油化工、化 學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等常用的實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。 本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。 偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前技術，多年研究開發的結果，在國內享有.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。 | |
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| 二、儀器的主要技術指標 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
1.顯微鏡技術參數:
2.熔點儀技術參數:
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