介電常數介質損耗試驗儀
介電常數介質損耗試驗儀:GDAT-A
介電常數介質損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
介電常數介質損耗試驗儀的詳細資料:
介電常數介質損耗試驗儀概述
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻等。
介電常數介質損耗試驗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
介電常數介質損耗試驗儀的技術指標
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
項 目
GDAT-A
頻率范圍
20kHz~10MHz;
固有誤差
≤5%±滿度值的2%;
工作誤差
≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍
10MHz~60MHz;
固有誤差
≤6%±滿度值的2%;
工作誤差
≤8%±滿度值的2%。
2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.介電常數介質損耗試驗儀電容測量:1~ 460
項 目
GDAT-A
直接測量范圍
1~460pF
主電容調節范圍
準確度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4.介電常數介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項 目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz~50MHz
頻率分段
(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
頻率指示誤差
3×10-5±1個字
5.Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
6.Q表正常工作條件
a. 環境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
8.產品配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一套
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
北廣公司其它緣材料檢測儀器:
BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗儀
BDJC系列緣材料工頻率介電擊穿試驗儀
BDJC系列電壓介電強度試驗儀器
BDJC系列 電壓擊穿試驗儀
BDJC系列緣漆漆膜擊穿強度試驗儀
BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗儀
T-121 體積表面電阻率測定儀
GDAT-A介質損耗測試儀/介電常數測試儀
GDAT-C新型介電常數介質損耗測試儀
BDH 耐漏電起痕試驗儀
BDH-B耐電弧試驗儀
介電常數介質損耗測試儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。
高頻介質樣品(選購件):
在現行高頻介質材料檢定系統中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。
該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以測試裝置的重復性和準確性。
介電常數介質損耗測試儀特點:
◎ 本公司的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值8nH,100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數和介質損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。
緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。
同樣,由測微圓筒線性電容器的電容量讀數變化,通過公式計算得到介電常數。
介電常數介質損耗測試儀主要技術指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率
可調電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
介電常數介質損耗測試儀裝置:
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm,±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4








