| 類型 | 散斑干涉儀 | 品牌 | VEW |
| 型號 | GE100000 | 品種 | 散斑干涉儀 |
| 測量范圍 | 30×40CM | 測量分辨率 | 1392×1040 |
| 近工作距離 | 1（mm） | 用途 | 用于檢測復合材料內部的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等 |
用于復合材料檢測的黃金眼剪切干涉測量系統（激光散斑錯位干涉測量系統）
黃金眼剪切干涉檢測系統主要用于檢測復合材料內部的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等。顯示出的非均勻性可用鼠標進行標記，從而確定所顯現缺陷的橫向大小和在測量視場中的位置
該測量技術用激光照射材料表面，將反射回的波面橫向平移位移后同未平移的波面進行自涉，形成干涉條紋。當被測材料由于開裂，剝離，內部包含異物，凹陷，受擠壓，或是多層材料出現脫層等現象，則材料表面的干涉模式會出現局部不連續。
該系統由VEW與不來梅應用光學研究所（BIAS）合作開發
與采用電機驅動反射鏡的其他常規剪切干涉系統不同，黃金眼系統次使用了電控的空間光調制器
（SLM）來實現剪切和相移。（已申請）測量場可以進行動態或溫度加載。
動態加載通過壓電傳感器（Piezo）來實現。壓電傳感器經真空緊密貼合在材料表面，由軟件控制產生量的振動。其振動頻率可變，從而可與材料的機械性能相匹配。溫度加載則可通過熱光源的照射來實現。
