詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X-ray膜厚測試儀：如何準確測量薄膜厚度并提高產能？在現代工業生產中，測量薄膜厚度是非常關鍵的一項工作。特別是在電子、光學和包裝行業，薄膜的厚度對產品的性能和質量有著重要影響。為了確保薄膜的精準厚度控制，使用一臺高精度的是必不可少的。這篇文章將介紹X-原理、應用、操作方法以及優勢，并提供一些關鍵要點，幫助讀者更好地了解和選擇適合自己生產需求的膜厚測試儀。首先，X-ray膜厚測試儀采用X射線透射原理進行測量。它通過向樣品投射高能X射線，然后接收透射X射線信號，并根據信號的強度和相位差來計算出薄膜的厚度。測試儀度通常可以達到0.1微米，可以滿足大多數工業生產的要求。
應用領域
對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
電鍍層測厚儀特點特點
1.上照式
2.高分辨率探測器
3.鼠標定位測試點
4.測試組件可升降
5.可視化操作
6良好的射線屛蔽
7.高格度移動平臺
8.自動定位高度
9.超大樣品腔
10 .小孔準直器
11.自動尋找光斑
12.測試防護
廣泛應用于各種薄膜材料的測量，如塑料薄膜、金屬薄膜、涂層薄膜等。它可以用于實時監測薄膜厚度的變化，幫助工廠及時調整生產參數，提高產品質量。同時，它還可以用于研發過程中的新材料測試和分析，為科學家提供重要的數據支持。操作X-ray膜厚測試儀非常簡單。只需將待測樣品放置在測試儀的臺面上，選擇合適的測試模式和參數，然后按下開始按鈕即可。測試儀會自動進行掃描和測量，然后顯示出薄膜的厚度結果。通過測試儀的觸摸屏界面，用戶可以方便地調整參數和查看測試記錄。相比傳統的測量方法有著明顯的優勢。首先，它具有高精度和高重復性，可以得到準確可靠的測量結果。其次，它具有非破壞性測試的特點，可以在不影響樣品性能的情況下進行測量。此外，X-ray膜厚測試儀還具有快速測量的優勢，能夠在短時間內完成大量樣品的測試，提高生產效率。綜上所述，X-ray膜厚測試儀是現代工業生產中不可或缺的重要設備。它能夠準確測量薄膜厚度，并提供關鍵的數據支持，幫助生產商提高產品質量和產能。如果您正在尋找一款可靠、高效的膜厚測試儀，不妨考慮X-ray膜厚測試儀，它將是您的不二選擇。
